なぜコネクタに絶縁抵抗と誘電電圧のテスト工程が必要なのか？

I.なぜコネクタに絶縁抵抗と絶縁耐圧試験工程が必要なのか？実際、絶縁抵抗と誘電耐圧試験は、コネクタの内部部品を認定し試験するためにコネクタメーカーが使用する2つのプロセスです。 これらの試験は、コネクタが定格動作電圧（試験電圧からディレーティングされた）で周囲条件下で使用されたときに、製品が故障せず、漏電しないことを保証します。 コネクタの絶縁抵抗試験プロセス 絶縁抵抗（IR）試験は、電流の漏れに対する絶縁材料の抵抗を測定するために実施されます。絶縁抵抗（IR）試験の目的は、電流の漏れに対する絶縁材料の抵抗を測定することであり、500 VDCの直流電位を印加したときの表面で測定される。結果が計算される前に部品が故障する可能性がある変数が複数あるため、部品上の結露、ボディの亀裂、絶縁の損傷。 2.コネクタ絶縁耐電圧試験検査プロセス 絶縁耐電圧（DWV）試験は、スイッチング、サージ、その他の現象によって引き起こされる過渡過電圧を考慮するように設計されており、試験されるシステムの定格動作電圧の 3 倍を超える試験電圧で適切な動作を確立することができます。部品の耐圧（BDV）が決定されます（DWV = 0.75 x BDV）。BDVは、部品が金属界面でアーク放電する電圧で、ピン対ピンまたはピン対ハードウェアを考慮し、動作電圧 = 1/3 x DWVまたは0.25 x BDVとなります。

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