端末の老朽化の理由とその検出方法は？

I.端子台の老朽化の理由と検出方法?一般的に、端子台の老朽化の主な原因は次のとおりです：1）環境と温度端子台が配置されている外部環境と熱源も端子台の温度が高くなりすぎ、絶縁破壊、さらには爆発や火災になります。2）化学腐食端子台シェル絶縁材料は、長時間の化学腐食や電解腐食のため、保護層の故障を引き起こし、絶縁が減少し、これも端子台の老朽化の悪化につながります。）電流の熱影響による長時間の過負荷運転は、端子を流れる負荷電流が熱につながるため、端子温度が上昇し、過度の温度は絶縁の老化を促進し、特に夏場は端子の老化が激しくなる。端子の老化試験方法 1）レールの上に水平に取り付けられた5つの端子、接続用の電線の定格断面積を使用し、少なくとも300ミリメートルの長さの電線を接続し、各端子の電圧降下を測定し、2）老化ボックスの温度下限値と温度上限値を20℃と75℃に設定した。4）次は冷却工程で、冷却状態の後、24回の加熱と冷却のサイクルごとに、電圧降下を1回測定し、全試験工程は合計192サイクルである。24サイクル後の測定値は、試験前の初期値の1.5倍を超えてはならない。

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